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中国电科38所发布超级针X射线成像系统

信息来源:新濠天地   发布日期:2019-05-25 06:24   点击次数:

  记者从中国电科38所获悉,在第92届中国(上海)电子展新产品发布会上,该所发布了一款自主研制的新一代无损检测设备超级针X射线成像系统。该系统将有助于提升我国集成电路封装检测技术能力;还可用于军工、汽车电子、医疗诊断、文物保护等不同领域。

  中国电科38所发布的新一代无损检测设备超级针X射线成像系统。

  近年来,随着我国集成电路产业快速发展,对集成电路封装检测高端设备需求日益凸显,然而国产设备以中低端产品为主,这在一定程度上制约了我国集成电路产业的发展。

  随着集成电路进一步向高集成度、微型化发展,先进封装工艺对封装检测设备提出了新的需求和挑战。一方面,更精细的封装尺度要求设备分辨率提升至亚微米级,而目前国际上可生产亚微米级分辨率设备的厂商屈指可数;另一方面,随着芯片制造及封装过程中越来越多地使用硅、铝、铜、陶瓷等轻元素材料,对轻元素材料的检测需求日益凸显,对设备检测范围提出了更高要求。因此,更高分辨率、更高对比度、更大检测范围的X 射线检测设备已成为集成电路封装检测行业急需产品,以解决当前看不清、看不见等问题。



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